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[이데일리 나은경 기자] 아스타(246720)는 특허청이 주최한 올해 발명특허대전에서 특허청장상을 수상했다고 2일 밝혔다.

지난 27~30일 서울 삼성동 코엑스에서 특허청이 주최하고 한국발명진흥회가 주관한 2024 대한민국 지식재산대전에서 산업용 질량 분석 장비 LDI-TOF(Laser Desorption Ionization-Time of Flight) 개발이 높은 평가를 받은 결과다. 이 기술은 레이저 탈착 이온화 방식으로 유기발광다이오드(OLED) 패널의 픽셀 단위로 질량분석이 가능해 OLED 패널의 제조공법에 따른 편차, 불량원인, 열화(degradation)등을 분석할 수 있다.

김양선 아스타 부회장(왼쪽 세 번째)이 김완기 특허청장(가운데)으로부터 수상을 하고 기념촬영하고 있다. (사진=아스타)

아스타의 질량 분석 장비는 2 마이크론(100만분의 1m)수준의 고체 표면이나 박막의 유기물 분석도 가능하기 때문에 너무 작아서 다른 분석방법으로 확인할 수 없는 물질까지 분석이 가능하다. 특히 많은 시간과 과정을 거쳐 일부 물질 유무를 확인하는 기존의 분석장비와 달리, 한 번의 측정으로 물질을 구성하는 물질들 전부를 간편한 샘플준비 과정으로 분석할 수 있다. 신속 편리성, 경제성 면에서 독보적인 경쟁력을 갖췄다는 설명이다. 소재 구조에 대한 보안이 중요한 고객사별 자체 데이터베이스(DB)를 구성할 수 있으므로 향후 공정 수율을 향상시키는 데도 큰 역할을 할 수 있을 것으로 보인다.

실제로 아스타는 OLED 관련 질량분석기를 관련업계의 최상위 다수의 업체들에 이미 납품한 것으로 알려져 있다. 회사 관계자는 “현재 후속 연구를 진행 중이며 이와 관련해 해외 업체들의 러브콜도 받고 있다”고 말했다.

LDI-TOF는 디스플레이 관련 소재 및 공정 개선에 사용됨은 물론 이차전지 업체들과 반도체 장비 업체들의 소재 및 공정상 물질 분석에 응용돼 관련 업체들 및 연구소 등에 납품되고 있다.